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电气设备绝缘预防性试验技术(2)

发布时间:2021-06-05   来源:未知    
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电气设备绝缘预防性试验的重要性与内容以及安全管理。

绝缘电阻指吸收电流按指数规律衰减完毕后测得的稳态电阻值,测量绝缘电阻可有效反应绝缘整体受潮、局部严重受潮或贯穿性缺陷等,是电气设备绝缘测试中应用最广泛、试验最方便的项目。

吸收比是同一试品在两个不同时刻的绝缘电阻的比值,所以排除了绝缘结构和体积尺寸的影响。一般以K大于1.3作为设备绝缘状态良好的标准亦不尽合适,有些变压器的K虽大于1.3,但R值却很低;有些K小于1.3 ,但R值却很高。所以应将R值和K值结合起来考虑,方能作出比较准确的判断。

绝缘电阻的测试最常用的是绝缘电阻表,也叫兆欧表,其根据电压等级有100V、250V、500V、1000V、2500V、5000V等几种,故在测量前应根据不同的电压选择相应的档位,当测得的绝缘电阻过低时应分析过低的原因,排除环境温度、湿度、表面脏污、感应电压等的影响,能分解试验的尽量分解试验,找出绝缘电阻最低点部分。

㈡介质损耗因素tanδ试验

在电压作用下,电介质产生一定的能量损耗,这部分损耗就称介质损耗。tanδ是反映绝缘介质损耗大小的特性参数,同类试品绝缘优劣可直接由tanδ的大小来判断,而从同类试验品tanδ的历次数据分析可掌握设备绝缘性能的发展趋势。

测量tanδ有平衡电桥法、不平衡电桥法、瓦特表法、相敏电路法四种方法,最常用的仪器是QS1型高压西林电桥、M-800型介质损耗仪等新型介质损耗仪,它集变频高压试验电源、高压电桥、高压标准电容器和控制器等部件为一体,通过变频、数字滤波等先进抗干扰技术,有效消除现场干扰,且操作简单、方便。当被试绝缘的体积越大,或集中性缺陷所占的体积越小,集中性缺陷处的介质损耗占被试绝缘全部介质损耗的比重就越小,总体的tanδ就增加得也越少,这样tanδ测量就不灵敏,因此测量各类电力设备tanδ时,能分解试验的尽量分解试验。

影响tanδ测量的因素有:①温度,tanδ随温度的增高而增大(固体电介质具有负温度系数)。为便于比较,应将在各种温度下测得的tanδ值换算到20℃时的值。②试验电压,当绝缘存在故障时,tanδ值与电压非线性。③试品表面泄漏电流,测试前应清除绝缘表面的积污和水分,必要时还可以在绝缘表面上装设屏蔽极。④试品电容量,电容量试品大,只能发现整体分布性缺陷,用测量tanδ的方法来判断绝缘状态就不很灵敏了。

㈢泄漏电流试验及直流耐压试验

直流泄漏电流试验与直流耐压试验的接线和原理相同,多同步进行。泄漏电流测量与绝缘电阻测量的原理基本相同,不同之处在于测量泄漏电流时所用的电源一般采用可调的直流

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