统计过程控制(SPC)—培训教材

spc 统计过程控制SPC

统计过程分析

培训师

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

概

述结论或加以推广。

◎统计方法的定义：资料的收集、整理与解释，并导出

◎资料种类：计数值(间断资料，Discrete Data) 计量值(连续资料，Continuous Data) ◎资料来源：原材料 过程(工序参考) 检验(产品特性)

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

群体与样本N μ

n x s

σ

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

数字数据处理的步骤1.原始资料审核：保存资料的真实性。 2.分类的决定：分成几类，避免重复及遗漏。 3.分类后整理：进行归类。 4.列表：根据结果编成适用的表式。 5.绘图：绘成统计图。

Edited by Mr. jose lee

spc 统计技术之应用1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 市场分析 产品设计 相依性规格、寿命及耐用性预测 过程控制及过程能力研究 过程改善 安全评估/风险分析 验收抽样 数据分析，绩效评估及不良分析

统计过程分析

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

SPC使用之统计技术 SPC1. 柏拉图(决定控制重点) 2. 统计检定 3. 控制图 4. 抽样计划 5. 变异数分析/回归分析Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

过程控制系统过程中对策 绩 效 报 告 成 品 改 善

过

程

中

对

策

人员

设备 材料 成 品

方法

环境Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

过程控制系统过程： 1. 过程： 过程是指人员、设备、材料、方法及环境的输入，经由一 定的整理程序而得到输出的结果，一般称之成品。成品经 观察、测量或测试可衡量其绩效。SPC所控制的过程必须符 合连续性原则。 绩效报告： 2. 绩效报告： 从衡量成品得到有关过程绩效的资料，由此提供过程的控 制对策或改善成品。 过程中对策： 3. 过程中对策： 是防患于未然的一种措施，用以预防制造出不合规格的成品。 成品改善： 4. 成品改善： 对已经制造出来的不良品加以选别，进行全数检查并返工/ 返修或报废。Edited by Mr. jose lee

spc 常态分配µ±Kσ µ±0.67σ µ±1σ µ±1.96σ µ±2σ µ±2.58σ µ±3σ 在内之概率 50.00% 68.26% 95.00% 95.45% 99.00% 99.73%

统计过程分析

在外之概率 50.00% 31.74% 5.00% 4.55% 1.00% 0.27%

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

常态分配

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

控制界限的构成

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

普通原因与特殊原因之变异普通原因：过程中变异因素是在统计的控制状态 下，其产品之特性有固定的分配。 特殊原因：过程中变异因素不在统计的控制状态下，其产品之特性没有固定的分配。

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

过程中只

有普通原因的变异

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

过程中有特殊原因的变异

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

第一种错误与第二种错误(α 第一种错误与第二种错误(α risk ;β risk)

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

第一种错误与第二种错误(α risk ;β risk)控制界限 α值 31.74% 平均值移动 β值 97.72% 1-β值

±1σ

±1σ

2.28%

±2σ

4.56%

±2σ

84.13%

15.87%

±3σ

0.27%6 % 10 3

±3σ

50.00%

50.00%

±4σ

±4σ

15.87%

84.13%

Edited by Mr. jose lee

spc

统计过程分析

普通原因与特殊原因之对策1. 特殊原因之对策(局部面) l 通常会牵涉到消除产生变异的特殊原因 l 可以由过程人员直接加以改善 l 大约能够解决15%之过程上的问题 2. 普通原因之对策(系统面) l 通常必须改善造成变异的共同问题 l 经常需要管理阶层的努力与对策 l 大约85%的问题是属于此类系统

Edited by Mr. jose lee

spcSPC导入流程 SPC建 问 确 过 立 题 可 之 解 系 决 统 键 性

统计过程分析

认 关 程 及 特

导入SPC进行关键 过程及特性之控制

检 讨 过 程 能 力 符 合 规 格 程 序足 够

不 足

提报及执行 过程改善计划

持 续 进 行 过 程 改 进 计 划Edited by Mr. jose lee

spc控制图的应用决 定 控 制 项 目 决 定 控 制 标 准 决 定 抽 样 方 法 选用控制图的格式 记 入 控 制 界 限 绘 NG 处 置 措 施 控制图判读 OK 持续改进控制图 点 、 实 施

统计过程分析

OK

Edited by Mr. jose lee

spc控制图的选择控制图的选择 计量值 数据性质？ 计数值

统计过程分析

n≧2

样本大小 n=?

n=1

不良数 数据系不良数 或缺点数

缺点数

~XCL性质? n=2~5 n=3或5

X

不是

n是否相等？

是

不是 单位大小是 否相关

是

n=?

n≧10

~

X R

X R控 制 图

X σ控 制 图

X Rm

P 控 制 图

PN 控 制 图

U 控 制 图

C 控 制 图

控 制 图

控 制 图

Edited by Mr. jose lee

spc计量值/ 计量值/计数值控制图公式汇总控制图 CL UCL LCL

统计过程分析

附注 n=2~5最适当 n<10以下

X -R计

μ,σ未 知

XR

X = ∑ X/kR = ∑ R/k X = ∑ X/k X = ∑ S/k ~ X = ∑ X/k R = ∑ R/kX = ∑ R/kRm = ∑ Rm/(k- n +1)

X + A2R D4RX + A3SB4 S

X A2RD3R X A3SB3S

量

X-σ~ X -R

Xμ,σ未 知 S~ X

10≦n≦25

~ X + m A2R3

~ X m A2R3

N=3 or 5较佳 与之R图相同 k:组数 n:样本大小

值

R X X-Rm Rm 计 P 数 Pn 值 C U

D4 R X + E2 R m D4 R m

D3 RX - E2 R m

D3 RmP 3 P(1 P)/nP - 3 P(100 P)/n

P = ∑ d/ ∑ n n P = d = ∑ d/k C = ∑ C/k

P + 3 P(1 P)/nP + 3 P(100 P)/n

P使用小数 P使用% n= 1/ P~5 P样本大小相同时使用 ， n=20 ~ 25 样本大小不同时使用 (为阶梯界 限)n=20~25Edited by Mr. jose lee

n P + 3 n P(1 P)

n P 3 n P(1 P)

C+3 C

C-3 C

U = ∑ C/ ∑ n

U + 3 U/n

U 3 U/n