MLCC电容物理应力导致击穿问题案例(8)

典型的MLCC电容外应力导致失效的诱因.

对破裂的电容进行上电耐压测试，12V起步/1V为单位步进上电，当电压到31V时，上电电容即冒火花烧毁！即，电容是为“过压”烧，但前因是电容因受机械应力导致参数下降（50V的耐压下降到31V）。后续隐患存在及个人建议：是不是有很多产品是在电容开裂的情况下出货，而这些产品大多数并不是工作在12VDC以上工作环境，表明上看起来工作是“很”正常。

附上烧毁后电容图如下：

3．破坏测试：

领PCB空板8拼1块焊上电容做掰板动作，也没有出现电容裂痕情况，由于今天产线没有排场SG2000-G03H(G600)生产，无法从制程上追溯故障产生原因。

（在6月23号安排200套生产，各段除正常生产调试外，额外设置了针对C27/C39两