半导体物理习题解答 第一章 晶体结构
1、(1)底心立方结构是布拉伐格子,其格子为简正方格子,三个原基矢分别为
a a
a1 i,a2 j,a3 ak
22
(2)侧面心立方和(3)边心立方结构均非布拉伐格子。侧面心立方结构由三套简立方格子套构
而成,边心立方结构由四套简立方格子套构而成,其格子均为简立方格子。 2、略 3、略 4、略 5、
正格子 倒格子 原基矢和倒基矢分别为
a ai j a2 a i j
22 2 2
i j b2 i j b1 3a3a
原胞原子数为2,面积为
3a 2
第二章 晶格振动和晶格缺陷
1、该双原子链的周期或晶格常数为a/3+a=4a/3
若用u2s和u2s 1分别表示第s(s 0, 1, 2, )个原胞中小原子和大原子离开平衡位置的位移,则有 取试探解为
2s (u2s 1 u2s 1 2u2s)mu
Mu2s 1 (u2s 2 u2s u2s 1)
u2s Aei(2 2sqb t)u2s 1 Be
i[(2(2s 1)qb t]
则得
(2 m 2)A (2 cos2qb)B 0 (2 cos2qb)A (2 M )B 0
2
式中 b=a/3,由A,B不同时为零,解得
振动频谱为
2
2
m M mmM
2
M2 2mMcos(4qb)
1/2
1/2
4 2 2
或 m M m M 2mMqa) mM 3
2、d〈a/2,
2
2
2m 2m
2
2m2coqas
1/2
2 qa
2m 2m 1 coqas 1 co
2
1/2
2
mmm
3、
mu
s 2 vs us 1 us vs 1 m v
s 1 us 1 vs 2 vs us u Aei(qn
a t)试探解为
nvi(qn a t)
n Be
第三章 半导体中的电子状态 1、(1)禁带宽度
由dE22
cdk 0和dEvdk 0有:当k=3k 2k1/4时,Ecmin=1 2k14m,当k=0时,EVmax=6m
从而 Eg E 2k21cmin Evmax12m h2
48ma
2
(2)导带电子有效质量mn
d2Ec2 22 28dk2 3m m 23m ,从而mn
2d2E/dk2
3m
8 (3)价带电子有效质量m,
n
d2Evdk2 6 2m从而m' 2mn d2E2
,或空穴的有效质量mp
=m/6 v/dk
62
(4)准动量改变为 2、(1) v
3 k13 k13h
0 448a
1 Ea
(E E)sinka k2
m / E/
k (2) -e
2
a(E E)coska
k
k=-e t/ t1 Eaae a
(E2 E1)sinka (E E)sin(t) v
k2 2
1e a(E E)(1 cost) x
2e
1
(E E) 当k=π/2a时,x=-2e
dE 21 21
0 (sinka sin2ka) sinka(1 coska) 0 3、(1)由dkma4ma2
当ka=0时,E Emin 0,当ka=±π时,E Emam
2 2
, ma2
2 2
能带宽度=Emax-Emin= 2
ma
(2)V(k)
1
sinka(1 coska) ma2
22m
(3)m* 2 ,当ka=0时,m*=m*max=2m
dE2coska cos2kadk2
第四章 半导体中载流子的统计分布
1.1)由于ni Nd/10,属饱和电离情况,
ni2
故n Nd 10cm,p 2.25 106cm 3
Nd
14
3
2)由
n nie
(Ef Ei)/K0T
Ndn1014
Ef Ei K0Tln K0Tln 0.026ln 0.23eV10
nini1.5 10
2. 由于ni>Nd/10,本征激发不能忽略。由n=Nd+p和np=ni2得
4ni21/2ni21
n Nd[(1 2) 1] Nd 1.05 1014cm13,
2NdNdni2 p 5.3 1012cm 3
Nd
3.
低温杂质弱电离区:
1)p<<Nd:
p
Nv(Na Nd)E Ev
exp a
gaNdK0T
Na Nd
gaNd
Ef Ea K0Tln
2)Nd<<p<<Na:
NvNa
p g
a
1/2
ex p
Ea Ev
2K0T
Ef
4. (1)
KTNa1
(Ev Ea) 0ln
22gaNv
(E E)/KT
Ef1 Ef2n1ecf10
(Ec Ef2)/K0T e 1 Ef2 Ef1 K0T Ec Ef2 3K0T K0T 4K0Tn2eK0T
(2) 5. 略
p1n2
1/e p2n1
ni2(1.5 1010)24 3
4.5 10cm6. (1) p 15n5 10
(2) 在杂质电离区,n Na Nd nd
Nd
2e
(Ef Ed)/K0T
1
Nd/3
Nd 3(n Na) 1.8 10cm
(3)电离施主密度=n Na 6 1015cm 3,电离受主密度=Na 1 10cm 中性施主密度=Nd (n Na) (18 6) 10 1.2 10cm, 中性受主密度=0
15
16
3
15
3
16 3
第五章 半导体中的电导和霍尔效应 1.(1) (3K0T/mn)
1/2
3 0.026 1.6 10 121/2 () 2.04 107cm/s 28
3 10
19
(1eV 1.602 10 (2)
J)
nmn
e0.39 3 10 31 13 7.3 10s 19
1.6 10
7
13
(3)l 2.04 10 7.3 10 1.4 10 5cm
(4)vd n 3900 10 3.9 104cm/s
讨论:①l 晶格原子间距,说明散射是由杂质或缺陷而不是由晶格原子引起的;
②vd ,说明电子被频繁地散射,在电场作用下积累起来的速度较小。
2. p
1116 3
, 1.1 10cm 19
e p2.84 1.6 10 200
Nv1.04 1019
Ef Ev K0Tln 0.026ln 0.178eV
p1.1 1016
设N
a2为电离的铟,则
N
a2
Na2
gae
(Ea2 Ef)/K0T
1
Na2
4e (0.178 0.16)/0.026 1
16
15
Na23
p Na1 Na2 Na2 3(p Na1) 3(1.1 10 10) 3 10cm
3.由于Vac<0,故为n型
16 3
VacH 5 10 3 0.1
1) 由 y RjxBz R 3 1.25 104cm3/c 8
jxBzIB10 4000 10
(1高斯=10-4T=10-8韦伯/cm2)
y
IL1 0.8 0.1( cm) 1
VabHW200 0.1 0.4
2) Nd
1114 3
5 10cm 4 19Re1.25 10 1.6 10
4
3
2
3) n R 1.25 10 0.1 1.25 10cm/Vs
4.证:1)由 e nn e pp e nn e pni2/n和
d
0 dn
e n e pni2/n2 0 n ni(
2)
p1/2
) nib 1/2和p ni(n)1/2 nib1/2
p n
n 1/21/2b b p2b1/2
i i
n1 b1
p
min eni nb
1/2
eni pb
1/2
nb 1/2 pb1/2
eni( n p)
n p
5.由p n (Na Nd),b n/ p和np ni2得
Na Nd4ni2n [ 1]
2(Na Nd)2p
Na Nd4n
[ 1]2
2(Na Nd)
2
i
4ni211 b1/2
e( nn pp) e p(bn p) e p(Na Nd)(1 b){[1 ] 2
21 b(Na Nd)
当进入本征区时: 第六章 非平衡载流子 1. p(t) g (1 e
t/
1
e p(1 b)2ni eni( n p) 2
) 当t , p ps g
2
2
10
3
2.室温下, n 1350cm/Vs, p 480cm/Vs,ni 1.5 10cm 1)
e nn0 e( n p) ps e nNd e( n p)g
1.6 10
n
f
19
10 1350 1.6 10(1350 480) 5 10 10
15 1919 6
0.23( cm)
1
2)
Nd ps1015 5 1013
E Ef K0Tln 0.026ln 0.00127eV 1.27meV15
Nd10Ef Efp K0Tln
p0 ps5 10
0.026ln 0.499eV5
p02.25 10
13
n 2n n
Dn2 G x 0 3. t x n 2n n
Dn2 x 0 t x
2n n
G 0 x 0 稳态时,Dn
2
x 2n n 0 x 0 Dn
2
x
解为: n(x) g Ae n(x) Be
x/Ln
x/Ln
x 0
x 0
由 n(0) n(0 ) n(0 )和
n n
得 A B g /2
x0 x0
1x/Ln
n g (1 e)x 0 0
2 n(x) Ln Dn g x/Lnx 0 n0 e2
2
NdNd
4.n0 Nd p0 Nd n/n0 n0 ni2 1.05 1014cm 3
24
2
i
p0 ni2/n0 5.04 1012cm 3
n n0 n 1.15 1014cm 3
又 n p g 10cm 1313
p p0 p 1.5 10cm
13
13
e( nn pp) 1.6 10 19(3900 1.15 1014 1900 1.5 1013) 7.63 10 2( cm) 1
1/ 13.1 cm R 5.(1)n0 nie
(Ef Ei)/K0T
l1
13.1 2 1.31K s10
1010e10 2.2 1014cm 3,p0 ni2/n0 4.54 105cm 3
p
(Enf Ef)/K0T
2
(2)由 n n0 n,p p0 p, n p和np nie
p2 (n0 p0) p ni2 ni2e10 p 1010cm 3 p p p0 p 1010cm 3
(3)由于 n p n0,故小注入条件成立。
2 p pDp 02x/Lp
x Aex ax a2
x/Lp p px/Lp
g 06.由Dp 得 a x 0 p(x) Be Ce a x 0 2
x x/Lp 2Dex ax a p p Dp 02
x
由 p( a), p(a)连续和
p x
,
a
ag a/Lp p
连续得A D g sh ,C B e
Lp2 xa
ax/Lp
(g sh)e
Lp
x a x a/Lp
ch) a x 0 p(x) g (1 e
Lp
x a
a x/Lp
(g shL)e
p
第七章 半导体的接触现象 1.略
2.(1)由于Ge的 n 3900cm/V.s, p 1900cm/V.s,ni 2.3 1013cm 3
nn
2
2
1e n n
1
1.6 1015cm 3 19
1.6 10 3900 1
pp
1e p p
115 3
3.3 10cm 19
1.6 10 1900 1
K0Tnnpp3.3 1.6 1030
V0 ln2 0.026ln 0.24V 26
eni5.29 10
(2)此时,nn
1e n n
117 3
1.6 10cm 19 2
1.6 10 3900 10
pp
1e p p
1
3.3 1017cm 3 19 2
1.6 10 1900 10
K0Tnnpp3.3 1.6 1034
V0 ln2 0.026ln 0.48V 26
eni5.29 10
3. 0 8.854 10 12F/m
x0 [
2 0 (nn pp)V0
ennpp
]1/2 [2 0 ( n n p p)V0]1/2
[2 8.854 10 12 16 (0.36 10 4 0.17 10 2) 0.5]1/2 0.49 m
4.(1)热平衡时,
e 0 nnpp
C0
2V(n p) p 0n 1.979 10 4F/m2
1/2
0 2V( ) pp 0nn
1/2
8.854 10 12 16
2 4 2 0.5 (0.36 10 0.17 10)
1/2
C C0S 1.979 10 4 3.14 0.152 10 6/4 3.49 10 12F 3.49 F (2)加3V反偏压时
0 C0
2(V V)( ) 0 nnpp
1/2
8.854 10 12 16
2 4 2 3.5 (0.36 10 0.17 10)
1/2
7.48 10 5F/m2
C C0S 7.48 10 5 3.14 0.152 10 6/4 1.32 10 12F 1.32 F
第八章 半导体表面
1.1)
2) 3)
讨论:1)如果以ns 和ps 分别表示表面电子密度和空穴密度,Eis表示表面本征费米能级,则开始出现反型层的条件是:ns=ps或Eis=Ef。由于Eis=Ei-eVs,Ef=Ei+eφB,从而有Vs=-φB。即开始出现反型层的条件是表面势等于负的体内静电势。 2)出现强反型条件是:ps=n0,由于ps nie 从而得φs=-φB,故有Vs=φs-φB=-φB-φB=-2φB
e s/K0T
,n0 niee B/K0T
eNdeNd2eNdd2V2
2. 解为,V(x) (x x)V xd ds
2 0 r2 0 r 0 rdx2
xd (
2 0 rVs1/2
),空间电荷面密度Qsc
Ndexd ( 2 0 reNdVs)1/2
eNd
3.证:n Nce p Nve4.解:n0
(Ec U Ef)/K0T
Nce Nve
(Ec eV Ef)/K0T
Nce Nve
(Ec Ef)/K0T
eeV/K0T n0eeV/K0T
(Ef U Ev)/K0T (Ef Ev eV)/K0T (Ef Ev)/K0T
e eV/K0T p0e eV/K0T
1e n
115 3
1.5 10cm 19
1.6 10 1350 3
Vi
eNd2en02 2 0 rVi1/2 2 0 r B1/2
x0 x0 x0 () () 2 0 r2 0 ren0en0
K0Tn010152 8.854 10 12 12 0.31/2 5
B ln 0.026ln10 0.3V x0 () 5.15 10cm 1921
eni101.6 10 1.5 10