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杭州奥科振动试验台电子组件振动试验法

发布时间:2024-11-10   来源:未知    
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关于振动试验台的试验方法,电子组件振动试验方法和要求,模拟运输环境振动试验台,浙江杭州奥科振动试验台

UDC 621.37-772.2-752.001.4:620.178.5

—1—

中国国家标准

编号 3629

CNSVibration

电子组件振动试验法Testing Procedures for Electronic Components

类号 C6016

1、适用范围:本标准规定用以测定电子组件(以下简称组件)于运输或使用中承受振动之耐久性能之试验方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。 注:试验方法Ⅰ适用于测定对一般振动之耐久性,试验方法Ⅱ适用于测定共振点及试验方法Ⅰ、Ⅲ前后共振点之偏距,试验方 法Ⅲ适用于测定在共振点之耐久性。 2、装置:振动装置应能作表中所示各种试验且符合下列条件。 (1)振动波形及失真率:施加于供试品之振动波形为正弦波,供试品安装位置之振动加速度波形之备波含有率应为 25%以下。 (2)振动振幅:规定振动方向之振幅容许差,须为规定值之±15%以内。 (3)与规定振动方向垂直之振动:于供试品安装位置,与规定振动方向垂直之振动,不论任何方向,其振幅应为规定方向之 25%以下。 (4)振动频率容许差:50Hz 以下就为±1Hz,超过 50Hz 时应为±2%。 (5)扫描(1)方法:原则是为对数扫描,但平均扫描亦可。 注: (1)1 次扫描,例如 10—55——10Hz,是指在规定振动频率范围作 1 次往复之频率变化。 3、准备 3.1 供试品之安装:将供试品依组件标准规定之方法,直接或使用夹具坚固地安装于振动台上。使用夹具时,须能施加振动 于组件标准规定之方向,且夹具应具足够机械强度,安装后亦不得松动或发生共振,组件标准应规定下列任一种安装方法。 (1) 固定组件本体(有导线之组件,亦同时固定导线) 。 (2) 仅固定导线。 4、试验 4.1 前处理:原则上不作前处理。但有特别需要时,依组件标准之规定。 4.2 初期测定:依组件标准之规定施行,检查外观。 4.3 试验方法:依下列各项施行。如装置产生磁导且供试品易受磁场影响时,于组件中应规定其最大允许值。 4.3.1 试验方法种类:试验方法分为Ⅰ(扫描耐久试验) 、Ⅱ(共振点偏移检出试验)及Ⅲ(共振点耐久试验)三种。 (1)试验方法Ⅰ(扫描耐久试验) :依组件标准之规定,照下表施行(参照图) 。 振动原则上依次施加于供试品互相垂直之方向。试验时间各方向均相同,合计 6 小时。 表 振动种类

种类 A试验条件

种类 B 100~500Hz 1.5mm 或 98m/s2(10G)中较小 者 10-500-10Hz 约 15 分钟

种类 C 10~2000Hz 1.5mm 或 196m/s2(20G)中较小 者 10-2000-10Hz 约 20 分钟

振动频率范围

10~55Hz 1.5mm 10-55-10Hz 约 1 分钟

全振幅或加速度

扫描之比例

扫描方法

对数扫描或平均扫描 6 小时(2)试验方法Ⅱ(共振点偏移检出试验) :本试验是于 4.3.1(1

)及 4.3.1(3)试验前后施行,以检出供试

试验时间

品这共振频率。检出共振时之振幅与扫描耐久试验相同。但如由于减小振幅更能精确检出振动特性。可减小振幅。

第一次修订:66 年 4 月 20 日 (共 2 页)

Vib-Vib-021

关于振动试验台的试验方法,电子组件振动试验方法和要求,模拟运输环境振动试验台,浙江杭州奥科振动试验台

修 订日 期

62 年 11 月 8 日 CNS3629, C 6016

经 济 部 中 央 标 准 局 印 行—2—

在扫描中检出共振点时,减低规定之扫描程度,必要时可停止扫描。于扫描耐入试验前后检出之共振频率,均应予以记录。 (3)试验方法Ⅲ(共振点耐久试验) :本试验是就规定各振动方向之振动频率,依组件标准之规定,于组件标准规定 之振动频率范围内作下列时间之试验。 10 分钟 4.3.2 4.3.3 30 分钟 90 分钟 10 小时 10 周(cycle)

电负载:组件标准有规定时,于 4.3.1(1)(2)(3)试验中,施加电负载。 、 、 后处理:原则上不作处后处理,但如有特别需要时,使组件标准之规定。

4.5 最终测定:依组件标准之规定施行,且检查外观。 5、组件标准应规定事项 (1) (2) (3) (4) (5) (6) (7) (8) (9) 安装(安装用具及安装方法) (参照 3.1 节) 前处理条件(有需要时) (参照 4.1 节) 初期测定项目(参照 4.2 节) 磁场影响(参照 4.3 节) 试验方法种类及试验条件(参照 4.3.1(1)(2)(3) 、 、 ) 电负载条件(参照 4.3.2 节) 振动试验中之测定项目(有需要时) (参照 4.3.3 节) 后处理条件(有需要时局(参照 4.4 节) 最终测定项目(参照 4.5 节)

(10) 其他特别需要事项

Vib-Vib-021

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