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LED主要失效模式分析(3)

发布时间:2021-06-07   来源:未知    
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靠性(如寿命、色移等)将变坏;于此同时,高温高热将使LED封装结构内部产生机械应力,可能进一步引发一系列的可靠性问题[5]。因此,在制造工艺上,可以选择导热性好的底座,并且使得LED的散热面积尽可能的大,从而增加器件的散热性能。

  (2) 防静电技术

  在第2.4节中已经提到,以GaN作为芯片的LED,在使用中存在的一个很大问题就是静电效应,如果不处理好这一问题,就会严重影响到器件的寿命。因此,在LED设计时,要充分考虑到防静电的设计,以避免器件因为高静电电压造成击穿等失效现象。

  (3) 封装技术

  封装所用的环氧树脂材料,会因为光照以及温升而引起其光透过率的劣化,在使用中则表现为原本透明的环氧树脂材料发生褐变,影响器件原本的光谱功率分布。因此,在进行LED封装的时候,我们要严格控制固化的温度,避免在进行封装的时候,就已经造成了环氧树脂的提前老化。

  另一方面,为了防止器件发生腐蚀现象,在选择透明性好的封装材料的同时,要注意注塑过程中,尽量排干净材料内部的气泡,以减小水气的残留量,降低器件发生腐蚀的几率。

  (4) 优化制造工艺

  LED制造过程中需要合适的键合条件,若键合过大将会压伤芯片,反之则会造成器件的键合强度不足,使得器件容易脱松。因此,在保证器件键合强度的同时,需要尽量降低键合工艺对芯片造成的损伤,以达到优化键合工艺的目的。

  在进行芯片的粘接时,要求控制温度和时间在合适的范围之内,使得焊料达到致密,无空洞,残余应力小等工艺要求。

  (5) 合理筛选

  在LED出厂前,可以增加一道筛选工艺,就是对其中的一些样品进行合理的老化和筛选试验,剔除一些可能发生提前失效的器件,以降低LED在实际使用中的提前失效现象。

  结论

  综上所述,尽管LED具有很高的理论寿命,但是在实际使用过程中,受芯片、封装、应力等因素的影响,使用时间远远不能达到所预期的理论值。为了确实
提高LED的寿命,无论是在制造工艺上,还是在应用层面上,都需要更进一步的研究、探索和实践。随着LED技术的不断发展,必定还会有新的问题不断浮现。但是只要能够掌握LED失效的根本原因,就能在实践中确实改善LED器件的性能,将这种新型光源推广到应用领域的前端,更好地服务于生产和生活。


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