高分子纳米复合材料的制备(14)

构畸变等。且可由衍射峰的半高宽计算对应晶面方向上的平均粒径，对广角X射线衍射谱进行径向分布函数处理，还能获得纳米粒子或基体近邻原子排布的变化情况。SAXS可用于测定粒子的粒径分布、体积分数和粒子/基体界面面积，且粒子排布造成的干涉效应也能在曲线上反映出来。纳米单元的结构特征，包括表面原子层结构，还可以采用X射线光电子能谱XPS、俄歇电子能谱AES、 离子能量损失谱ILS，而界面结构及相互作用表征技术很多X射线光电子能谱、俄歇电子能谱、激光拉曼光谱、红外光谱等，可用于研究和表征纳米粒子/高聚物的相互作用等，而高聚物界面层的性质可以用DSC、动态粘弹谱、介电谱等表征。另外还有一些有用的测试手段，例如扫描探针显微技术、包括STM、AFM等，其中原子力显微镜AFM是采用一个对微弱力极敏感的微悬臂，上面固定一微小针尖，通过针尖在样品表面的扫描，获得体系表面微观形貌及近原子级分辨率，水平上的微细结构信息，而且利用AFM测量中对力的极端敏感性，它还可以测量体系纳米级力学性质，包括弹性、塑性、硬度和摩擦力等，还能测定纳米粒子与高聚物基体的接触角。还有正电子湮没技术，PAT被认为是一种高分子体系纳米级微孔和自由体积的探针，另外还可用Rutherford背散射法RBS测量纳米粒子的深度分布，范围是几十纳米，而XPS深度测量的范围小于5 nm。 4 高分子纳米复合材料的应用及前景

由于高分子纳米复合材料既能发挥纳米粒子自身的小尺寸