思考题与习题
2.1 温度为 300K 的本征硅半导体载流子浓度为 ni =1.45´ 1010cm - 3 ,禁带宽度为 1.12eV,计
- 3
算掺入 1015cm 硼原子后硅中电子和空穴的浓度以及费米能级。
解:空穴浓度为 p=Na+n»Na = 1015cm - 3
2
n i
=2.10´ 105cm - 3 电子浓度为 n=N a
P 型半导体的费米能级为 Ef=Ei - kTln(
N a
n i
15
N 10 a
Ef-Ei =-kTln()=-(0.0259ev)ln(=- 0.29ev
ni 1.45´ 1010
Ei =
EC+ E V
= 0.56ev 2
E f 距离导带 E C 0.85ev E f 距离价带 E v 0.27ev
EC-Ef =0.56+0.29= 0.85ev Ef-Ev =0.56-0.29= 0.27ev
- 3
2.2 温度为 300K 的本征硅半导体掺入 2´ 1016cm 的砷原子,计算掺杂后硅半导体电子和空
穴的浓度以及费米能级。
解:电子浓度为 n=Nd+ni»Nd =2´ 1016cm - 3
2
n i
=1.05´ 104cm - 3 空穴浓度为 n=N d
n 型半导体的费米能级为 Ef=Ei + kTln(
N a
) n i
16
N d 2´ 10
Ef-Ei =kTln(=(0.0259ev)ln(= 0.366ev 10
ni 1.45´ 10
Ei =
EC+ E V
= 0.56ev 2
E f 距离导带 E C 0.194ev E f 距离价带 E v 0.926ev
EC-Ef =0.56-0.366= 0.194ev Ef-Ev =0.56+0.366= 0.926ev
2.3 某半导体光电器件的长波限为 13um,试求其杂质电离能 D E i 。 解:依题意,由杂质吸收条件,则杂质吸收的长波限 lL £ E i
所以杂质电离能 DEi £ =1.24/13=0.095ev
L
2.4 已知本征硅材料的禁带宽度 Eg = 1.02eV ,求该半导体材料的本征吸收长波限。 解:由 lL £
hc1.24
= EgE g
1.24
= 1.216( um ) 1.02
又 E g =1.2 eV,则 lL =
2.5 GaAs 在 EC 边缘的有效状态密度 Nc =4.7´ 1017cm - 3 ,在 EV 边缘的有效状态密度
Nv =7´ 1018cm - 3 ,带隙 Eg = 1.42ev ,计算在 300K 时的本征浓度与固有电阻率,同时确
3/2 定费米能级的位置。假设 N c 和 N v 与 T 成正比,求在 100℃时本征浓度是多少。如果 - 3 GaAs 晶体均匀掺杂 1018cm 的锑原子, 请确定此时晶体费米能级的位置以及此时晶体的
电阻率,GaAs 的漂移迁移率如下图所示。
掺杂浓度与漂移迁移率的关系( m e 表示电子, m h 表示空穴)
- 3 掺杂浓度( cm ) 2-1- 1 m e (cmVs)
0 15
10 16 10 17 10 18 10
8500 8000 400 380
7000 4000 2400 310
220 160
m h (cm2V-1s-1 )
解:
E g
ni=(NcNv )1/2 exp(2kB T
1.42eV 17-318 -3 1/2
ù =é(4.7´10cm)(7´10cm)exp[ëû 2(8.6174´ 10-5eVK- 1 )(300K) =2.223´ 1012m - 3
- 3
=2.223´ 106cm
s=eni(me+ m h )
=(1.608´10-19C)(2.223´106cm-3)(8500cm2V-1s-1+ 400cm2V-1s- 1 )
-1=3.17´10-9W cm - 1
1
=3.16´108 W cm s
N (4.7´ 1017cm- 3 ) -5- 1 c
又 Ec-EFi=kB Tln(=(8.617´10eVK)(300K)ln[= 0.675eV
ni (2.223´106cm- 3 )
r =
ni(T)=[ Nc(300K)Nv (300K)]
17
-3
1/2
3/2
E g æT ö
exp(ç÷
2kB T è300Kø
3/2
18
- 3
1/2
1.42eV æ373Kö
ni (373K)=[(4.7´10cm)(7´10cm)]´ç÷ exp[-5- 1
300K 28.6174´ 10eVK( 373K ) èø =6.61´ 108cm - 3
2.6 在微弱辐射作用下光电导材料的光电导灵敏度有什么特点?为什么要把光敏电阻的形状
制造成蛇形?
解:在微弱辐射作用下,半导体的光电导为
g =
hq mt
j e, l 2
hvl
可见此时半导体材料的光电导与入射辐射通量 j e,l 成线性关系。半导体材料在弱辐射作 用下的光电灵敏度为 S g =
dghq mtl
= 2
dj hcl e, l
可见, S g 为与材料性质有关的常数,与光电导材料两电极间长度l的平方成反比。为了 提高光电导器件的光电灵敏度 S 一般就将光敏电阻的形状制造成蛇形。还有就是增大 g ,了受光面积,也提高了光电灵敏度。 2.7 光生伏特效应的主要特点是什么?
解:光生伏特效应是基于半导体 PN 结 基础上的一种将光能转换为电能的效应。当入射辐
射作用在半导体 PN 结上产生本征吸收时,价带中的光生空穴与导带中的光生电子在 PN 结内建电场的作用下分开,N 区的空穴向P 区运动,P 区的电子向 N 区运动,结果P 区 带正电,N 区带负电,形成光生伏特电压或光生电流。
2.8 光电发射材料 K2 CsSb的光电发射长波限为 680nm,试求该光电发射材料的光电发射阈
值。 解:由 lL =
则 Eth =
hc1239
( nm ) EthE th
12391239
== 1.82( ev ) ,即该光电发射材料的光电发射域值为 1.82 电子伏特。 lL 680
2.9 已知某种光电器件的本征吸收长波限为 1.4um,试计算该材料的禁带宽度。 1.24 1.24
解:由 lL Þ E £ g £
lL E g
又 lL = 1.4( um ) 所以 Eg £
1.241.24
== 0.886( ev ) l 1.4 L
2.10 何为“白噪声”?何为“1/ ”?采用什么措施可以降低电阻的热噪声和 1/ 噪声? 解: 热噪声存在于任何导体与半导体中,它属于白噪声。热噪声(Johnsonn噪声)是由
于载流子的热运动而引起电流或电压的随机起伏。降低温度和压缩频带宽度,可减少噪 声功率。
1/f 噪声通常又称为电流噪声(有时也称为闪烁噪声或过剩噪声)。它是一种低频噪 声,几乎所有探测器中都存在这种噪声。实验发现,探测器表面的工艺状态(缺陷或不 均匀)对这种噪声的影响很大。这种噪声的功率谱近似与频率成反比,故称之为 1/f 噪 声。1/f 噪声主要出现在 1kHz 以下的低频区,当工作频率大于 1kHz 时,它与其他噪声相 比可忽略不计。 在实际使用中, 常用较高的调制频率可避免或大大减小电流噪声的影响。 2.11温度为300K时1KW 的电阻工作在100Hz带宽内产生的均方噪声电压和均方噪声电流。 解: k=1.38´ 10- 23 J/K
inr =
4KTD f
=1.656´ 10- 21A 2
R
unr =4KTDfR=1.656´ 10- 15V 2
11 1/2 3
2.12 探测器的 D*=10 cm Hz /W,探测器光敏面积的直径为 0.5cm,用于D =5×10 Hz 的光
电仪器中,它能探测的最小辐射功率为多少? 解:由 D =
V/V 1 N
= S和
D=NEPP 有
Pmin=/D*=10-10=3.13´ 10- 10 W
PS:
Pmin=/D*=/1011= 0.031W
2.13 某型号硅 APD 光敏面直径为 0.5mm, 等效噪声功率为
3求该光电探测器的比探测率。
电流灵敏度为 77A/W,
解:
D*====1.48´1013(cm×Hz1/2× W- 1 ) PS:
D*====0.0148(cm×Hz1/2× W- 1 ) 2.14 某一金属光电发射体有 2.5eV 的逸出功,并且导带底在真空能级下位 7.5eV。试计算:
(1)产生光电效应的长波限;(2)产生费米能级相对于导带底的能级。 解:可知电子亲和势 E A 等于真空能级与导带底能级 E C 之差即
EA=EO-EC = 7.5ev
同时,金属材料的电子逸出功定义为 T=0K 时真空能级与费米能级之差,
W=Eo-Ef = 2.5ev
光子的最小能量必须大于光电材料的逸出功,才能够使电子逸出物质表面,这个最小能 量对应的波长即为长波限:
l=
hc1.24 =mm= 0.496m m w2.5(ev)
DE=EC-Ef=(EO-Ef)-(EO-EC )= 5ev
2.15 试求一束功率为 30mW、波长为 0.6328um 的激光束的光子流速率 N。 解:依题意,设光子流速率为 N 个/秒,则 = j e,l
又 j e,l =30mW,λ=0.6328um
j´ l 16
所以 N= e, l = 9.54×10 个/秒
hc