数字电子技术EWB仿真实验 实验02 集成逻辑门电路逻辑功能的测试 16页

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实验二 集成逻辑门电路逻辑 功能的测试

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一、实验目的1. 认识数字电子技术实验的仪器、设备及使用 方法。2. 逐步熟悉常用的集成电路芯片。

3. 了解逻辑代数的物理意义。

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二、实验仪器及设备1. 数字逻辑实验台2. 元器件： 74LS08(二输入端四与门) 1片

1台

74LS32(二输入端四或门)74LS04(六反相器) 74LS00(二输入端四与非门) 74LS02(二输入端四或非门)

1片1片 1片 1片

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三、实验内容1.测试74LS08(二输入端四与门)逻辑功能2.测试74LS32(二输入端四或门)逻辑功能 3.测试74LS04(六反相器)逻辑功能

4.测试74LS00(二输入端四与非门)逻辑功能5.测试74LS02(四输入端二与非门)逻辑功能

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集成块实物图

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1.测试74LS08的逻辑功能将74LS08芯片正确插入面包板，并注意 识别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向 左，则左下角为第1脚)。按表一要求输入 高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。

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实物接线图

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2.测试74LS32的逻辑功能将74LS32正确插入面包板，并注意识别第 1脚位置(集成块正面放置且缺口向左，则左 下角为第1脚)。按表一要求输入高、低电平 信号，测出相应的输出逻辑电平。

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3.测试74LS04的逻辑功能将74LS04正确插入面包板，并注意识别第 1脚位置(集成块正面放置且缺口向左，则左 下角为第1脚)。按表一要求输入高、低电平 信号，测出相应的输出逻辑电平。

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4.测试74LS00的逻辑功能将74LS00芯片正确插入面包板，并注意识 别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左， 则左下角为第1脚)。按表一要求输入高、低 电平信号，测出相应的输出逻辑电平。

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5.测试74LS02的逻辑功能将74LS02芯片正确插入面包板，并注意 识别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左， 则左下角为第1脚)。按表一要求输入高、低 电平信号，测出相应的输出逻辑电平。

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6.测试74LS86的逻辑功能将74LS86芯片正确插入面包板，并注意识 别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左， 则左下角为第1脚)。按表一要求输入高、低 电平信号，测出相应的输出逻辑电平。

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四、实验记录

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五、实验结果分析总结与门、或门、非门、与非、或非门、 异或的逻辑规律。