第七章 工程光学(8)

工程光学

7．透过率

透射光光强与入射光光强之比定义为光学系统的透过率。由光学材料的吸收、光学表面的反射等原因造成光学系统的透过率下降。对不同波长的光，透过率不同。连续测量准单色光的透过率，得到分光透过率曲线或反射率曲线，可以分析镜头的彩色还原特性。

反射率曲线通常设计成高通(例如透射蓝紫光的膜层)、低通(例如透射红光的膜层)、带通(例如透射黄绿光的膜层)、带阻(例如阻止绿光透过的膜层)形式，如图7-15所示。

(a) 低通 (b)高通 (c) 带通 (d)带阻

图7-15 光学镀膜的四种透过率曲线

8．杂光系数

杂光来源：光学系统中的杂质、光学材料中的气泡、光学表面的多次反光光学元件边缘反光、结构件表面的反光。

测量原理：被观测视场全黑，其它视场全亮，测量黑视场成像后的照度，测量装置如图7-16所示。

照明方法：用积分球作为光源，被观测视场用牛角或其它近似全吸收光的元件形成黑视场。

图7-16 照相物镜杂光系数装置示意图

§7.2显微镜

显微镜的主要光学指标有放大倍率、数值孔径和分辨率。

1．前置镜法测量显微镜的放大倍率

测量原理：用已知大小的物体通过被测显微镜成像于无穷远处，再用已知焦距的前置镜成实像，测量该实像的大小，计算显微镜的放大倍率。

前置镜法测量显微镜放大倍率的装置如图7-17所示。