单晶硅纳米力学性能的测试(7)

单晶硅纳米力学性能的测试

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　　　　　光学　精密工程　　　　　

赵宏健(1987-),男,吉林九台人,学生,主要从事材料性能分析与表征及其微观力学的研究。E2mail:mse_

hjianzhao@zju.edu.

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第17卷　

黄　虎(1986-),男,湖北人,硕士研究生,主要从事纳米力学和原位纳米力学测试的研究。E-mail:huanghu0691

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●下期预告

氩气Z箍缩内爆等离子体温度诊断

施　军1,肖沙里1,王洪建1,2,2,2

(1.重庆大学重庆2.)

Z,。“阳”加速器上探测X射线光谱,采用X射线胶片接收信号。,计算了伴线k与共振线w的强度比以及伴线j与禁戒谱线z之和与共振线强度比,利用伴线与共振线强度比值和等离子体电子温度的关系诊断出电子温度为960～1060keV,实验结果证明谱线强度比值法是一种探测电子温度很有效的诊断方法。