2004年材料科学研究方法考试试题与答案

北京化工大学2004——2005学年第 1 学期

《 材料科学研究方法》期末考试试卷(A卷)

班级： 姓名： 学号： 分数：

一、名词解释（每题2分，共10分）

X射线的标识谱：当加于X射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值Uk时，在连续谱的某些特定的波长位置上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对一定材料的阳极靶材有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征。

空间点阵：晶体是由原子在三维空间中规则排列而成的。在研究晶体结构时，一般只抽象出其重复规律。这种抽象的图形即为空间点阵。

残余应力：指产生应力的各种因素不复存在时，由于形变和体积变化不均匀而存留在物体内部并自身保持平衡的应力。

分辨本领：是指成像物体(试样)上能分辨出来的两个物点间的最小距离。 热分析法：利用热效应来研究材料的转变和反应等。

二、选择题（每题只选一个答案，每题1.5分，共30分）

1.当一个K层电子被激发而形成空位时，一个M层电子填补K空位，产生的特征X射线称射线。

①Kα ②Kβ ③Mα ④Mβ

2.电子束与固体相互作用一般不会产生。

①二次电子与俄歇电子 ②二次电子与透射电子

③特征X射线与俄歇电子 ④二次电子与二次离子。

3.电子探针微区分析的区域大小为。

①mm级 ②μm级 ③ nm级 ④原子级

4.扫描电镜的放大倍数取决于。

①电磁透镜的放大率 ②电磁透镜的磁场强度

③电子束扫描区域与荧光屏显示区域的比值 ④二次电子产生效率