衍射线线形分析方法(6)

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标样线形记为g(x)，它是由上述权重函数相互叠形成的，在数学上它们是卷积。如果记：

其中X为与标准2θ值的偏离量，即将坐标原点移到衍射线的极大处，则有

实验中使用的标样线形为标准试样的实测线形，常用的标准试样有纯度高、结晶良好的α-SiO2和Si，它们的粒度应在350目左右。 衍射线线形宽化的主要原因 仪器宽化

产生因素包括由于X射线管焦斑不是理想的几何线，因此产生的入射线具有一定的发散度、平板试样引起的欠聚焦、试样的吸收、衍射仪的轴偏离和接受狭缝的宽度等。 物理宽化

由材料中的晶格畸变（亦称点阵畸变、显微畸变）、晶块细化（亦称亚晶细化、微晶宽化）等缺陷引起。 （2）衍射线形的卷积关系

g(y)、f(z)、h(x)分别表示仪器宽化、物理宽化及试样实测曲线的线形函数由仪器宽化因素造成的强度分布曲线（工具曲线）记为： Ig(x)= Ig(m) g(y) Ig(m)为g(y)曲线的最大强度值 由物理宽化因素造成的强度分布曲线（本质曲线）记为： If(z)= If(m) f(z) If(m)为f(z)曲线的最大强度值 直接由被测试样测得的谱线称为仪测曲线，记为： Ih(x)= Ih(m) h(x) If(m)为f(z)曲线的最大强度值 将谱线的积分强度定义为谱线曲线下面的总面积；谱线的积分宽度定义为谱线的积分强度除以线形的峰值。则仪器宽化曲线（工具曲线）的积分宽度b、物理宽化曲线（本质曲线）的积分宽度β、仪测曲线的积分宽度B分别表示为